Kunstig intelligens og Machine Learning

• Af:
  
• John Nyberg

Dansk Institut for Fundamental Metrologi, DFM, i Hørsholm, er mødestedet, når FAST torsdag den 28. februar holder temadagen: Kunstig intelligens og Machine Learning.

Efter introduktion til dagen er første punkt: Introduktion til hvad Machine Learning og kunstig intelligens er.

Programmet byder også på et indlæg ved Teknologisk Instituts Jacob Kortbek: Anvendelse af robotter til dataopsamling og Machine Learning. Inden frokost gælder det yderligere to indlæg: Brug af sporbarhed i industrien, som DFM´s Søren A. R. Kynde, tager fat i, mens Maria Jensen, Neurospace, efterfølgende har emnet: Brug af statistik i Machine Learning og Kunstig Intelligens.

Eftermiddagen gælder det dels rundvisning på DFM med diskussion om brug af sporbarhed på opsamlede data og en omfattende Case Story om Wolfram, UK, som vil sætte Machine Learning lidt i perspektiv og fortælle om forudsætninger og risici forbundet med brugen af Machine og statistisk, for eksmepel datakvalitet, formål med videre. Wolfram vil også komme med et par praktiske eksempler på anvendelse af Machine Learning. Indlægget vil være på engelsk.

Efter temadagen er der fra klokken 16.30 ordinær generalforsamling i FAST.