Zeiss lancerer dansk CT-teknologi

Med Zeiss Xradia CrystalCT bliver DTU-spinotet Xnovo Technology ApS' Diffraction Contrast Tomography-teknologi, DTC, hvormed man kan analysere såkaldte diffraktionssignaler fra materialeprøver og omsætte dem til et 3D-billede af krystalstrukturen i materialet, lanceret som et dedikeret kommercielt produkt.

DCT-billeddannelse var tidligere kun tilgængelig ved hjælp af et synkrotronanlæg, indtil det blev en mulighed med Zeiss Xradia 620 Versa 3D-røntgenmikroskop gennem et udvidelsesmodul.

Ud over at være en dedikeret DCT-platform er Xradia CrystalCT også, ifølge producenten, et klasseledende microCT-billeddannelsessystem, der giver enestående opløsning og billedkvalitet til en række 3D-billedbehov.

Xnovo Technology blev stiftet i december 2012 af seniorforsker ved DTU-Energy Conversion & Storage, Erik Mejdal Lauridsen, og professor ved DTU Fysik, Henning Friis Poulsen.

Men ideen til DTC-teknologien kom til inden det. I 2010 blev der første patent blev hjemtaget, og samme år blev de tildelt GAP-midler, såvel som mødtes med firmaet Xradia, der året efter
blev opkøbt af Zeiss.

I april 2013 blev den første medarbejder ansat og investorer kom på plads, og året efter blev den første prototype udviklet og installeret på University of Manchester såvel som DTU Vindenergi.

I 2018 indgik virksomheden en strategisk partnerskabsaftale med Zeiss efter at have samarbejedet i to år. Dette med henblik på at udbrede teknologien og herigennem accelere mulighderne for forskere globalt inden for materialevidenskab.

Med Zeiss Xradia CrystalCT-skanneren bliver materialeanalyseteknologien nu tilgængelig for en endnu bredere målgruppe, konstaterer parterne.  

Flere informationer: her