CIA-CT-skanningsevent på DTU med AM-fokus

• Af:
  
• Thore Dam Mortensen

Ved det kommende event i CIA-CT-konferencerækken, der startet i 2010, er DTU igen vært, med henblik på at give interesserede branchefolk en opdatering om brugen af Computed Tomography (CT) på metrologiområdet i industrien.

Konferencen løber af stablen i Lyngby den 7. juni, og her vil 11 internationale- og indlandske eksperter på universitets såvel som industrisiden fortælle om aktuelle muligheder og udfordringer på området.

Eksempelvis er anvendelsen af CT-processer inden for Additive Manufacturing, AM, et hot emne såvel som Industrie 4.0, der berørers af i hvertfald seks af oplægsholderne, der blandt andet tager fat i ruhedskarakteristik af 3D-metalprintede kølekanaler i indsatse til sprøjtestøbeværktøj.

På industrisiden deltager eksempelvis repræsentanter fra Novo Nordisk og producenten af måleudstyr herunder CT-skannere, tysk Werth.

DTU-ansvarlig for arrangementet er som tidligere professor ved DTU Mekanik og leder af Centre for Industrial Applikation of CT Scanning (CIA), Leonardo De Chiffre.